Répertoire des expertises

Vous êtes ici

Publications par type

Samuel Jean Bassetto (62)

  • Articles de revue (21)
    • 2017
      • Article de revue
        Armellini, F., Pelicioni, R.A., Kaminski, P.C. & Bassetto, S. (2017). Including the voice of the client in the creative process: a case study of the integration of Quality Function Deployment (QFD) to the Value Proposition Design (VPD) in the service sector. Journal of Modern Project Management, 5(2). Tiré de http://www.journalmodernpm.com/index.php/jmpm/article/view/291
      • Article de revue
        Charron-Latour, J., Bassetto, S. & Pourmonet, H. (2017). STARS: the implementation of a computer-aided employee suggestion management system to operationalize a continuous improvement process. Cognition, Technology & Work, 19(1), 179-190. Tiré de https://doi.org/10.1007/s10111-016-0401-3
    • 2016
      • Article de revue
        Baud-Lavigne, B., Bassetto, S. & Agard, B. (2016). A method for a robust optimization of joint product and supply chain design. Journal of Intelligent Manufacturing, 27(4), 741-749. Tiré de https://doi.org/10.1007/s10845-014-0908-5
      • Article de revue
        Bettayeb, B. & Bassetto, S.J. (2016). Impact of type-II inspection errors on a risk exposure control approach based quality inspection plan. Journal of Manufacturing Systems, 40, 87-95. Tiré de https://doi.org/10.1016/j.jmsy.2016.06.003
      • Article de revue
        Restrepo, D., Charron-Latour, J., Pourmonet, H. & Bassetto, S. (2016). Seizing opportunities for change at the operational level. International Journal of Health Care Quality Assurance, 29(3), 253-266. Tiré de https://doi.org/10.1108/IJHCQA-02-2015-0022
      • Article de revue
        Elbadiry, A.H., Bassetto, S.J. & Ouali, M.S. (2016). Study of similarity analysis methods for aviation system failures. IEEE Aerospace and Electronic Systems Magazine, 31(6), 12-22. Tiré de https://doi.org/10.1109/MAES.2016.150109
    • 2014
      • Article de revue
        Fiegenwald, V., Bassetto, S. & Tollenaere, M. (2014). Controlling non-conformities propagation in manufacturing. International Journal of Production Research, 52(14), 4118-4131. Tiré de https://doi.org/10.1080/00207543.2013.783244
      • Article de revue
        Bettayeb, B., Bassetto, S.J. & Sahnoun, M. (2014). Quality control planning to prevent excessive scrap production. Journal of Manufacturing Systems, 33(3), 400-411. Tiré de https://doi.org/10.1016/j.jmsy.2014.01.001
      • Article de revue
        Sahnoun, M.h., Bettayeb, B., Bassetto, S.-J. & Tollenaere, M. (2014). Simulation-based optimization of sampling plans to reduce inspections while mastering the risk exposure in semiconductor manufacturing. Journal of Intelligent Manufacturing, 27(6), 1335-1349. Tiré de https://doi.org/10.1007/s10845-014-0956-x
    • 2013
      • Article de revue
        Agard, B. & Bassetto, S. (2013). Modular design of product families for quality and cost. International Journal of Production Research, 51(6), 1648-1667.
    • 2012
      • Article de revue
        Bassetto, S., C., C., F., M. & V., F. (2012). Experiencing production ramp-up education for engineers. European Journal of Engineering Education, 37(6), 652-654.
      • Article de revue
        Bettayeb, B., Bassetto, S., Vialletelle, P. & Tollenaere, M. (2012). Quality and exposure control in semiconductor manufacturing. Part II: Evaluation. International Journal of Production Research, 50(23), 6852-6869.
      • Article de revue
        Bettayeb, B., Bassetto, S., Vialletelle, P. & Tollenaere, M. (2012). Quality and exposure control in semiconductor manufacturing. Part I: Modelling. International Journal of Production Research, 50(23), 6835-6851.
    • 2011
      • Article de revue
        Shanoun, M., Bassetto, S., Bastoini, S. & Vialetelle, P. (2011). Optimization of the process control in a semiconductor company, model and case study of defectivity sampling. International Journal of Production Research, 49(13), 3873-3890. Tiré de https://doi.org/10.1080/00207543.2010.484429
      • Article de revue
        Bassetto, S., Siadat, A. & Tollenaere, M. (2011). The management of process control deployment using interactions in risks analyses. Journal of Loss Prevention in the Process Industries, 24(4), 458-465.
    • 2010
      • Article de revue
        Baud-Lavigne, B., Bassetto, S. & Penz, B. (2010). A broder view of control chart economic design. International Journal of Production Research, 48(19), 5843-5857. Tiré de https://doi.org/10.1080/00207540903150593
      • Article de revue
        Mili, A., Siadat, A., Bassetto, S., Hubac, S. & Tollenaere, M. (2010). Unified process for action plan management: Case study in a research and production semiconductor factory. IEEE Aerospace and Electronic Systems Magazine, 25(6), 4-8. Tiré de https://doi.org/10.1109/MAES.2010.5525313
    • 2009
      • Article de revue
        Mili, A., Bassetto, S., Siadat, A. & Tollenaere, M. (2009). Dynamic risk management unveil productivity improvements. Journal of Loss Prevention in the Process Industries, 22(1), 25-34. Tiré de https://doi.org/10.1016/j.jlp.2008.07.011
      • Article de revue
        Bassetto, S. & Siadat, A. (2009). Operational methods for improving manufacturing control plans: case study in a semiconductor industry. Journal of Intelligent Manufacturing, 20(1), 55-65. Tiré de https://doi.org/10.1007/s10845-008-0103-7
    • 2006
      • Article de revue
        Bassetto, S., Siadat, A. & Martin, P. (2006). Interactions entre les risques des produits, des processus de fabrication, des ressources par l'utilisation du concept de typologie. Application à une usine de recherche et de production de semi-conducteurs. [Mastering process control using risks typologies]. Journal européen des systèmes automatisés, 40(6), 571-591. Tiré de https://doi.org/10.3166/jesa.40.571-591
    • 2004
      • Article de revue
        Bassetto, S., Hubac, S., Siadat, A. & Martin, P. (2004). Méthode outillée employant les connaissances d'experts. Revue française de gestion industrielle, 24(1), 1-13.
  • Communications de conférence (39)
    • 2015
      • Communication de conférence
        Charron-Latour, J., DePaula, R. & Bassetto, S. (2015). Amélioration continue par le personnel, du besoin à la réalité. Communication présentée à Congrès Mondial des infirmières et infirmiers francophones, Montréal, Québec.
      • Communication de conférence
        Brunetto, F., Peuch, J. & Bassetto, S. (2015). System risk analysis enhanced with system graph properties. Communication présentée à 9th Annual IEEE International Systems Conference (SysCon 2015), Vancouver, BC (p. 289-294). Tiré de https://doi.org/10.1109/SYSCON.2015.7116766
    • 2014
      • Communication de conférence
        Pourmonet, H., Charron-Latour, J. & Bassetto, S. (2014). App inventor to boost continuous improvement. Communication présentée à 2nd annual MIT App Inventor Summit, Boston, MA.
      • Communication de conférence
        Tilouche, S., Bassetto, S. & Partovi Nia, V. (2014). Classification algorithms for virtual metrology. Communication présentée à IEEE International Conference on Management of Innovation and Technology (ICMIT 2014), Singapore, Singapore (p. 495-499). Tiré de https://doi.org/10.1109/ICMIT.2014.6942477
      • Communication de conférence
        Fiegenwald, V., Bassetto, S. & Tollenaere, M. (2014). Controlling non-conformities propagation in manufacturing. Communication présentée à IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM 2011), Singapore (p. 1476-1480). Tiré de https://doi.org/10.1109/IEEM.2011.6118162
      • Communication de conférence
        Nebas, M. & Bassetto, S. (2014). Data management system in clean room environment. Communication présentée à 2nd annual MIT App Inventor Summit, Boston, MA.
      • Communication de conférence
        Bettayeb, B. & Bassetto, S. (2014). Effects of process learning and product lifecycle on risk-based quality control plans. Communication présentée à 8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014), Ottawa, ON (p. 505-510). Tiré de https://doi.org/10.1109/SysCon.2014.6819303
    • 2013
      • Communication de conférence
        Partovi Nia, V., Asgharian, M. & and Bassetto, S. (2013). A format test for binary R&R measurement systems. Communication présentée à Joint Statistical Meetings, SCC Section, Montréal, Québec (p. 2865-2872).
      • Communication de conférence
        Bassetto, S., Paredes, C. & Baud-Lavigne, B. (2013). A systemic approach of quality controls. Communication présentée à 7th Annual IEEE Systems Conference (SysCon 2013), Orlando, Fl, USA.
    • 2012
      • Communication de conférence
        Agard, B. & Bassetto, S. (2012). Modular design for quality and cost. Communication présentée à 6th IEEE International Systems Conference (SysCon 2012), Vancouver, BC, Canada (p. 328-333).
      • Communication de conférence
        Motte, A. & Bassetto, S. (2012). Product based quality control. Communication présentée à IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM 2012), Hong Kong, China.
      • Communication de conférence
        Motte, A. & Bassetto, S. (2012). Product driven quality control. Communication présentée à IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM 2012), Hong Kong, China (p. 347-351). Tiré de https://doi.org/10.1109/IEEM.2012.6837759
      • Communication de conférence
        Sahnoun, M.H., Bettayeb, B., Tollenaere, M. & Bassetto, S. (2012). Smart sampling for risk reduction and delay optimisation. Communication présentée à IEEE International Systems Conference, Vancouver, BC, Canada (p. 1-6).
    • 2011
      • Communication de conférence
        Fiegenwald, V., Bassetto, S. & Tollenaere, M. (2011). Controlling non-conformities propagation in manufacturing. Case study in an electromechanical assembly plant. Communication présentée à IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM 2011), Singapore, Singapore (p. 1476-1480).
      • Communication de conférence
        Bettayeb, B., Tollenaere, M. & Bassetto, S. (2011). Plan de surveillance basé sur l'exposition aux risques et les capabilités des ressources. Communication présentée à 9e Congrès international de génie industriel (CIGI 2011), Saint-Sauveur, Québec.
      • Communication de conférence
        Fiegenwald, V., Bassetto, S. & Tollenaere, M. (2011). Vers la maîtrise de la propagation des non-conformités en fabrication : cas d'étude dans une usine d'assemblage électromécanique. Communication présentée à 9e Congrès international de génie industriel (CIGI 2011), Saint-Sauveur, Québec.
    • 2010
      • Communication de conférence
        Shanoun, M.H., Vialletelle, P. & Bassetto, S. (2010). A dynamic sampling algorithm. Communication présentée à 13th ARCSIS Technical & Scientific Meeting, Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Rousset, France.
      • Communication de conférence
        Sahnoun, M.h., Vialletelle, P., Bassetto, S., Tollenaere, M. & Bastoini, S. (2010). Historical wafer-at-risk construction in STMicroelectronics 300mm wafer fab in crollesoptimizing return on inspection through defectivity smart skipping. Communication présentée à Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Rousset, France.
      • Communication de conférence
        Bettayeb, B., Vialletelle, P., Bassetto, S. & Tollenaere, M. (2010). Operational risk evaluation and control plan design. Communication présentée à 13th ARCSIS Technical & Scientific Meeting, Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Rousset, France.
      • Communication de conférence
        Bettayeb, B., Vialletelle, P., Bassetto, S. & Tollenaere, M. (2010). Optimized design of control plans based on risk exposure and ressources capabilites. Communication présentée à International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2010), Tokyo. Japan (p. 1-4).
      • Communication de conférence
        Mili, A., Siadat, A., Bassetto, S., Hubac, S. & Tollenaere, M. (2010). Unified process for action plan management: Case study in a research and production semiconductor factory. Communication présentée à 3rd Annual IEEE Systems Systems Conference, Vancouver, British Columbia (p. 372-376). Tiré de https://doi.org/10.1109/SYSTEMS.2009.4815829
    • 2008
      • Communication de conférence
        Mili, A., Hubac, S., Siadat, A. & Bassetto, S. (2008). Dynamic management of detected factory events and estimated risks using FMECA. Communication présentée à 4th IEEE International Conference Management of Innovation and Technology (ICMT 2008), Bangkok, Tailand (p. 1204 - 1209). Tiré de https://doi.org/10.1109/ICMIT.2008.4654541
      • Communication de conférence
        Mili, A. & Bassetto, S. (2008). New approach for risk analysis update based on maintenance events. Communication présentée à 17th IFAC World Congress, Seoul, Korea (p. 34-39). Tiré de https://doi.org/10.3182/20080706-5-KR-1001.00005
      • Communication de conférence
        Mili, A., Hubac, S., Bassetto, S. & Siadat, A. (2008). Risks analyses update based on maintenance events. Communication présentée à 17th IFAC World Congress, Korea, South. Tiré de https://doi.org/10.3182/20080706-5-KR-1001.90001
      • Communication de conférence
        Mili, A., Hubac, S., Siadat, A. & Bassetto, S. (2008). Unified action plan management based on risk analysis and relevant information approaches. Communication présentée à 4th IEEE International Conference on Management of Innovation and Technology (ICMIT 2008), Bangkok, Thailand (p. 1-6). Tiré de https://doi.org/10.1109/ICMIT.2008.4654327
    • 2007
      • Communication de conférence
        Mili, A., Hubac, S. & Bassetto, S. (2007). Industrialization of risk analysis method. Communication présentée à 8th European Advanced Equipment Control/Advanced Process Control Conference (AEC/APC 2007), Dresden, Germany.
      • Communication de conférence
        Bassetto, S., Mili, A., Siadat, A. & Tollenaere, M. (2007). Proposition d'organisation du retour d'expériences par la gestion des risques pour faciliter l'industrialisation. Communication présentée à 7e Congrès international de génie industriel (CIGI 2007), Trois-Rivières, Quebec.
      • Communication de conférence
        Bassetto, S., Mili, A. & Siadat, A. (2007). Speeding-up experiences return during new productions industrialization. Communication présentée à IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM 2007), Singapore (p. 1251-1255). Tiré de https://doi.org/10.1109/IEEM.2007.4419392
    • 2006
      • Communication de conférence
        Bassetto, S., Siadat, A. & Martin, P. (2006). A collaborative problem resolution tool based on experts knowledge acquisition, using term classification. Communication présentée à 5th CIRP International Seminar on Intelligent Computation in Manufacturing Engineering (CIRP ICME 2006), Ischia, Italy.
      • Communication de conférence
        Bassetto, S., Siadat, A., Vernadat, F. & Martin, P. (2006). Enterprise model for integrating process control into CAM system. Communication présentée à 12th IFAC Symposium on Information Control Problems in Manufacturing (INCOM 2006), Saint-Étienne, France (p. 635-640). Tiré de https://doi.org/10.3182/20060517-3-FR-2903.00322
      • Communication de conférence
        Bassetto, S. & Siadat, A. (2006). Vers une définition de la notion de connaissance, application à la gestion des risques opérationnels. Communication présentée à GDR MACS Conference, Paris, France.
    • 2004
      • Communication de conférence
        Bassetto, S., Siadat, A. & Martin, P. (2004). A knowledge management framework, applied to relevant information discovery and reuse : Balancing knowledge and technology in product and service life cycle. Communication présentée à 4th CIRP International Seminar on Intelligent Computation in Manufacturing Engineering (CIRP ICME 2004), Sorento, Italy (p. 125-132). Tiré de https://doi.org/10.1007/978-0-387-35613-6
      • Communication de conférence
        Bassetto, S., Hubac, S., Siadat, A. & Martin, P. (2004). A tooled methodology to reduce operational risks. Communication présentée à IEEE International Conference on Advances in Intelligent Systems - Theory and Applications (IEEE-AISTA), Luxembourg, Netherlands.
      • Communication de conférence
        Bassetto, S. (2004). Contribution au développement de la méthodologie de process control d'une unité de Recherche et Production de circuits semi-conducteurs. Application à la gestion des risques en zone de fabrication et à la maîtrise de l'environnement de fabrication. Communication présentée à GRD MACS Conference, Aix en Provence, France.
      • Communication de conférence
        Bassetto, S. (2004). L'utilisation des connaissances contenues dans les AMDEC produit - process - machine, dans une usine de semi-conducteurs. Communication présentée à I-KM journée du 151, Paris, France.
    • 2003
      • Communication de conférence
        Bassetto, S. (2003). Designing and prototyping a prospective knowledge discovery and reuse system for process control engineers. Communication présentée à 4th European Advanced Equipment Control/Advanced Process Control Conference (AEC/APC 2003), Grenoble, France.
    • 2002
      • Communication de conférence
        Bassetto, S., Siadat, A. & Martin, P. (2002). Adavanced process control application modelling. Communication présentée à 4th CIRP International Seminar on Intelligent Computation in Manufacturing Engineering (CIRP ICME 2004), Ischia, Italy (p. 151-157).
  • Chapitres de livre (1)
    • 2002
      • Chapitre de livre
        Bassetto, S., Siadat, A. & Martin, P. (2002). Introduction to the prototyping of an intelligent supervision system. Dans Knowledge and Technology Integration in Production and Services : Balancing Knowledge and Technology in Product and Service Life Cycle (Vol. 101, p. 427-436). Springer. Tiré de https://doi.org/10.1007/978-0-387-35613-6_48
  • Thèses (1)
    • 2005
      • Thèse
        Bassetto, S. (2005). Contribution à la qualification et à l'amélioration des moyens de production, de manière opérationnelle, dynamique, en supportant les connaissances métier (Thèse de doctorat, Arts et Métiers ParisTech - École Nationale Supérieure d'Arts et Métiers). Tiré de https://pastel.archives-ouvertes.fr/pastel-00001331