Le Centre de Caractérisation Microscopique des Matériaux, (CM)²

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Services

Les travaux réalisés au (CM)² peuvent être divisés en 2 catégories:

Universitaires

Les principaux domaines de recherche sont la caractérisation nano/microscopique des matériaux et la compréhension des propriétés et du comportement des matériaux. Dans le cadre de ces activités, le (CM)² offre un appui technique et scientifique à l'ensemble des chercheurs et des professeurs du réseau universitaire susceptibles d'avoir besoin des équipements du (CM)².

Industriels

Ces travaux peuvent être à court, moyen et long terme selon les besoins. Ainsi les travaux à court terme sont souvent reliés à des analyses de défaillance, à des problèmes de production ou à la qualité des produits. Les projets à moyen et long terme ont souvent pour but l'amélioration de produits ou de procédés existants.

Pour plus d'information, contactez-nous.

Exemples d'applications

Voici quelques exemples d'applications pour chacune des grandes classes de matériaux pour lesquels l'expertise et les appareils du (CM)² peuvent être utiles.

Nanomatériaux
  • Microscopie électronique en transmission  
  • Microscopie électronique à balayage 
  • Spectroscopie des électrons Auger  
  • Diffractomètre rayons X  
  • Analyseur d'images  
  • Détermination de la nature et de la taille de nanoparticules
  • Détermination de la distribution de nanoprécipités dans une matrice
  • Détermination de l’épaisseur et de la composition d’une couche mince
  • Détermination de la taille de cristaux nanométriques
  • Quantification des paramètres stéréologiques de nanoparticules
Matériaux métalliques
  • Microscopie électronique en transmission
  • Microscopie électronique à balayage 
  • Spectroscopie des électrons Auger 
  • Diffractomètre rayons X 
  • Analyseur d'images 
  • Microanalyses des fins précipités
  • Fractographie
  • Étude de ségrégation aux joints de grains
  • Mesure de l'austénite résiduelle
  • Métallographie quantitative 
Céramiques
  • Microscopie électronique en transmission 
  • Microscopie électronique à balayage 
  • Spectroscopie des électrons Auger 
  • Diffractomètre rayons X 
  • Analyseur d'images
  • Distributions des éléments légers par EELS (B,C,N,O) 
  • Identification chimique des phases
  • Étude de phénomènes de diffusion
  • Stœchiométrie des oxydes
  • Pourcentage de porosité
Matériaux composites
  • Microscopie électronique en transmission 
  • Microscopie électronique à balayage 
  • Spectroscopie des électrons Auger 
  • Diffractomètre rayons X 
  • Analyseur d'images 
  • Densité des dislocations aux interfaces fibres/matrice
  • Distribution et orientation des fibres
  • Identification des composés inter-métalliques aux interfaces fibres/matrice
  • Pourcentage de phases cristallines dans les matrices polymériques
  • Fraction volumique des particules
Matériaux électroniques
  • Microscopie électronique en transmission 
  • Microscopie électronique à balayage 
  • Spectroscopie des électrons Auger
  • Diffractomètre rayons X 
  • Analyseur d'images 
  • Agencement atomique aux interfaces de semi-conducteursInspection de micro-circuits 
  • Identification de contamination de surface
  • Orientation cristallographique de gaufres monocristallines
  • Dépistage informatisé des défauts de fabrication de micro-circuits

Et bien d’autres...