Titre de la thèse : High quality delay testing scheme for a self-timed microprocessor
Présenté par : Omar Al-Terkawi
Programme : Génie électrique
Département : Dép. de génie électrique

Jury

Président : Yves Audet
Directeur de recherche : Yvon Savaria
Codirecteur de recherche : Claude Thibeault
Membre : Yves Blaquière
Membre externe : Benoit Nadeau-Dostie
Représentant du directeur des études supérieures : Giovanni Beltrame

Entrée libre
Bienvenue à tous!