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CREPEC

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Coordonnatrice
Carole Anne De Carufel

Microscope électronique à balayage (MEB)/ Scanning Electron Microscope (SEM)

Marque / Modèle

Hitachi TM3030

Type de test

avec analyse élémentaire/with elemental analysis (EDX)

Cet appareil est disponible

Polytechnique Montréal, A-653 de Polytechnique, Abdellah AJJI